点击图片查看原图光纤光谱仪薄膜厚度测量
光学的膜厚测量系统基于白光干涉测量原理，可以测量的膜层厚度10nm-50μm，分辨率为1nm。薄膜测量在半导体晶片生长过程中经常被用到，因为等离子体刻蚀和淀积过程需要监控；其它应用如在金属和玻璃材料基底上镀透明光学膜层也需要测量膜层厚度。配套的广州标旗应用软件包括丰富的各种常用材料和膜层的n值和k值，可以实现膜层厚度的在线监测，并可以输出到Excel文件进行过程控制。
微型光纤光谱仪和传统光谱仪在工作原理上的差异
传统光谱仪的工作原理是通过色散元件和光学系统将被分析物质发射的光谱按不同的波长分开排列，然后加以记录和测量。
而微型光纤光谱仪的工作原理则是通过将光信号转换为电信号来测量光谱。具体来说，它主要包括光源、光纤和分光系统等部分。光源通常使用电弧灯或激光器来产生光线。光纤是光纤光谱仪的重要的传输部件，通常由一根玻璃或塑料光纤组成，可以传输不同波长光。分光系统是光纤光谱仪的重要的部分，它将光线按不同的波长分开。
总的来说，微型光纤光谱仪相对于传统光谱仪，具有更小、更轻、更便捷的优点，可以更方便地用于各种移动设备上，从而提高了工作效率。
通用型光纤光谱仪是一种用于测量光谱的设备，通常由光源、光纤、分光器、探测器和信号处理器等组成。这种设备可以用于各种应用，包括环境监测、材料科学、生物医学、食品和饮料质量控制、化学分析等。通用型光纤光谱仪具有多种优点，例如便携性、灵活性、高精度和高分辨率等。
通用型近红外光纤光谱仪是一款广泛应用于科研和工业检测领域的仪器。该产品采用先进的傅里叶变换光学系统，具有分辨率高、灵敏度高、稳定性好等特点。在150到400纳米波段范围内，可实现从固体、液体样品到大分子有机物等不同物质的快速无损分析测定。此外，它还配备了多种附件模块，可根据实际需求进行选择使用。
